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MRF8S18120HR3 MRF8S18120HSR3
7
RF Device Data
Freescale Semiconductor
GSM TEST SIGNAL
Figure 11. EDGE Spectrum
-- 1 0
-- 2 0
-- 3 0
-- 4 0
-- 5 0
-- 6 0
-- 7 0
-- 8 0
-- 9 0
--100
200 kHz Span 2 MHz
Center 1.96 GHz
-- 11 0
400 kHz
600 kHz
400 kHz
600 kHz
(dB)
Reference Power
VWB = 30 kHz
Sweep Time = 70 ms
RBW = 30 kHz
VDD
=28Vdc,IDQ
= 800 mA, Pout
=72WCW
f
MHz
Zsource
?
Zload
?
1760
1.53 -- j1.94
2.32 -- j0.41
1780
1.53 -- j1.82
2.31 -- j0.51
1800
1.56 -- j1.90
2.31 -- j0.49
1820
1.56 -- j1.86
2.32 -- j0.40
1840
1.57 -- j1.75
2.33 -- j0.26
1860
1.51 -- j1.64
2.29 -- j0.12
1880
1.49 -- j1.58
2.29 -- j0.01
1900
1.49 -- j1.55
2.29 + j0.05
1920
1.48 -- j1.53
2.31 + j0.06
Zsource
= Test circuit impedance as measured from
gate to ground.
Zload
= Test circuit impedance as measured from
drain to ground.
Figure 12. Series Equivalent Source and Load Impedance
Zsource
Zload
Input
Matching
Network
Device
Under
Test
Output
Matching
Network
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